O Acelerômetro MEMS baseado em silício XDA-205 adota um formato compacto Pacote cerâmico CLCC-14 e tecnologia avançada de sensores MEMS. Isto Acelerômetro de dois eixos de nível industrial características Alta estabilidade, baixo ruído, baixa deriva térmica, excelente estabilidade a longo prazo e desempenho de saída digital confiável. Para aplicações industriais exigentes.
Número da peça, :
XDA-205Pedido (MOQ) :
1tempo de liderança :
4Séries e parâmetros do produto
| Parâmetro | Condições de teste | Min | Tipo | Máximo | Unidade |
| Faixa de medição | Selecionável pelo usuário | ±2, | g | ||
| ±3 | |||||
| Largura de banda de -3 dB | 1000 | Hz | |||
| Não-linearidade | 0,1 | % FS | |||
| Sensibilidade do eixo transversal | 1 | % | |||
| Sensibilidade | ±2 g | 256.000 | LSB/g | ||
| ±3 g | 168.000 | ||||
| Alteração da sensibilidade devido à temperatura | 1σ, entre -40 e 85 °C | ±0,01 | %/°C | ||
| Sensibilidade e repetibilidade | 1σ, a 25 °C | 0,16 | % | ||
| Saída de deslocamento 0 g | −10 | ±5 | 10 | mg | |
| Deslocamento de 0 g vs. Temperatura | −40°C ~ +85°C | −0,08 | ±0,02 | 0,08 | mg/°C |
| Erro de retificação de vibração (VRE) | Faixa de ±2g, em uma orientação de 1g, Deslocamento devido à vibração de 2,5g rms | <0,4 | g | ||
| Densidade Espectral de Ruído | 20 | ug/√Hz | |||
| Caminhada aleatória de velocidade | Eixo X e eixo Y | 7,5 | mm/s/√h | ||
| Alteração na saída do autoteste | 0,8 | 1 | g | ||
| Taxa de dados de saída | Fsysclk/32 | kHz | |||
| Resolução de saída | 20 | Bits | |||
| Tempo de ativação | Modo de espera para o modo de medição | < 10 | ms | ||
| Consumo atual | Modo de medição Modo de espera | 450 | uA | ||
| 20 | |||||
| Sensor de temperatura Saída a 25°C (T25) Fator de escala (TSF) | 4959,2 134,66 | LSB LSB/°C |
Processo de produção
Dimensões do produto


Cenários de aplicação



Perguntas frequentes
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