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Método de teste para viés e fator de escala de acelerômetro flexível de quartzo: guia completo e análise de sensibilidade à temperatura.

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Método de teste para viés e fator de escala de acelerômetro flexível de quartzo: guia completo e análise de sensibilidade à temperatura.

March 31, 2025

"É apresentada uma análise aprofundada dos métodos de teste para o viés (viés zero) e o fator de escala de acelerômetros flexíveis de quartzo, incluindo técnicas especializadas como o teste de rolamento de quatro pontos e o teste de dois pontos, bem como a fórmula de cálculo para a sensibilidade à temperatura. Isso é aplicável a aplicações de alta precisão, como navegação inercial e espaçonaves."

O viés (viés zero) e o fator de escala dos acelerômetros flexíveis de quartzo determinam diretamente a precisão da medição e a estabilidade a longo prazo do acelerômetro, especialmente em cenários de aplicação de alta precisão, como navegação inercial e controle de atitude. Portanto, são dois indicadores-chave de desempenho para a avaliação de acelerômetros de quartzo.

 

A importância fundamental do viés (viés zero) reside no erro inerente do sistema do acelerômetro, que leva diretamente ao desvio fundamental de todos os resultados de medição. Por exemplo, se o viés zero for de 1 mg, o valor medido incorporará esse erro, independentemente da aceleração real. O viés zero também sofre deriva com fatores como tempo, temperatura e vibração (estabilidade do viés zero). Em sistemas de navegação inercial, a deriva do viés zero é continuamente amplificada por meio de operações de integração, resultando em erros cumulativos de posição e velocidade. As características de temperatura dos materiais de quartzo também podem causar a variação do viés zero com a temperatura (coeficiente de temperatura do viés zero), sendo necessários algoritmos de compensação de temperatura para suprimir esse efeito em aplicações de alta precisão. O fator de escala refere-se à relação proporcional entre o sinal de saída de um acelerômetro e a aceleração de entrada real. O erro no fator de escala pode levar diretamente à distorção proporcional dos resultados da medição. A estabilidade do fator de escala afeta diretamente o desempenho do sistema em ambientes de alta faixa dinâmica ou temperatura variável. Na operação de integração da aceleração em sistemas de navegação inercial, o erro do fator de escala será integrado duas vezes, amplificando ainda mais o erro de posição.

 

Portanto, a razão pela qual o viés e o fator de escala se tornaram indicadores-chave de desempenho de acelerômetros flexíveis de quartzo é que ambos são fontes fundamentais de erro e restrições essenciais à estabilidade a longo prazo. Em aplicações de nível de sistema, o desempenho desses dois parâmetros determina diretamente se o acelerômetro pode atender aos requisitos de alta precisão e alta confiabilidade, especialmente em cenários como direção autônoma, espaçonaves, navegação submarina, etc., onde a tolerância a erros é zero.

 

Oteste de viésO teste pode ser realizado por dois métodos: teste de rolamento de quatro pontos (posições de 0°, 90°, 180° e 270°) ou teste de dois pontos (posições de 90° e 270°). O teste do fator de escala pode ser realizado por três métodos: teste de rolagem de quatro pontos (posições de 0°, 90°, 180° e 270°), teste de dois pontos (posições de 90° e 270°) e teste de vibração. Tomando como exemplo o método de teste de rolamento de quatro pontos, este artigo explica como obter o viés e o fator de escala de um sensor de aceleração.

 Quartz Flexible Accelerometer

 

1.Métodos de teste para viés e fatores de escala:

 

um)Instale o acelerômetro em uma bancada de testes específica (cabeçote indexador de múltiplos dentes).

b)Inicie a bancada de testes.

c)Gire a bancada de testes no sentido horário até a posição de 0°, estabilize-a e registre a saída de múltiplos conjuntos de produtos testados de acordo com a frequência de amostragem especificada. Considere a média aritmética como o resultado da medição;

d)Gire a bancada de testes no sentido horário até a posição de 90°, estabilize-a e registre a saída de múltiplos conjuntos de produtos testados de acordo com a frequência de amostragem especificada. Considere a média aritmética como o resultado da medição;

e)Gire a bancada de testes no sentido horário até a posição de 180°, estabilize-a e registre a saída de múltiplos conjuntos de produtos testados de acordo com a frequência de amostragem especificada. Considere a média aritmética como o resultado da medição;

f)Gire a bancada de testes no sentido horário até a posição de 270°, estabilize-a e registre a saída de múltiplos conjuntos de produtos testados de acordo com a frequência de amostragem especificada. Considere a média aritmética como o resultado da medição;

g)Gire a bancada de testes no sentido horário até a posição de 360°, depois no sentido anti-horário para obter os ângulos de rotação de 270°, 180°, 90° e 0°. Após a estabilização, registre a saída de múltiplos conjuntos de produtos testados de acordo com a frequência de amostragem especificada e calcule a média aritmética como resultado da medição.

h)Calcule o viés e o fator de escala.do produto testado usando as seguintes fórmulas (1) e (2).

K0 = Bias-------------------------------------- (1)

 

K1 =Scale factor-------------------------------------- (2)

 

Onde:

K0 -------Viés

K1 -------Fator de escala

       Test process diagram for recording accelerometer data at 0° positions A média total das leituras direta e inversa na posição 0°

        Test process diagram for recording accelerometer data at 90° positionsA leitura média total da rotação para frente e para trás na posição de 90°

        Test process diagram for recording accelerometer data at180° positions--- Leitura média total da rotação para frente e para trás na posição de 180°

        Test process diagram for recording accelerometer data at 270° positions--- Média total das leituras para rotação direta e inversa na posição de 270°

 

2.Método de teste para sensibilidade à temperatura de polarização e sensibilidade à temperatura do fator de escala

um)Inicie a bancada de testes.

b)Calcule o viés e os fatores de escala em cada ponto de temperatura usando as fórmulas (1) e as fórmulas (2) à temperatura ambiente, à temperatura operacional limite superior especificada pelo acelerômetro e à temperatura limite inferior especificada pelo acelerômetro.

c)Calcule osensibilidade à temperaturado acelerômetro usando as seguintes fórmulas (3) e (4):

  A diagram showing the steps for zero offset and scale factor sensitivity tests of a quartz accelerometer at different temperature points---------------------(3)

onde:

Bias temperature sensitivitySensibilidade à temperatura de polarização

Bias of upper limit temperature of sensor----Viés da temperatura limite superior do sensor

Bias of sensor room temperature----Viés da temperatura ambiente do sensor

Bias of the lower limit temperature of the senso-----Desvio da temperatura limite inferior do sensor

Upper limit temperatureTemperatura limite superior

Room temperatureTemperatura ambiente

Lower limit temperatureTemperatura limite inferior

 

  A diagram showing the steps for zero offset and scale factor sensitivity tests of a quartz accelerometer at different temperature points---------------------(4)

Onde:

Scale factor temperature sensitivitySensibilidade à temperatura do fator de escala

Scale factorFator de escala

Scale factor for the upper limit temperature of the sensorFator de escala para a temperatura limite superior do sensor

Scale factor of sensor room temperatureFator de escala da temperatura ambiente do sensor

Scale factor for the lower limit temperature of the sensorFator de escala para a temperatura limite inferior do sensor

Upper limit temperatureTemperatura limite superior

Room temperatureTemperatura ambiente

Lower limit temperatureTemperatura limite inferior

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